太陽光模擬器均勻度及輻照穩(wěn)定度要求
更新日期：2023-11-30 瀏覽次數(shù)：2014
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太陽光模擬器是一種模擬太陽光照射的設(shè)備，由于該模擬器測試過程不受環(huán)境、氣候、時間等因素影響，從而避免了室外測量的各種因素限制，可廣泛用于太陽能電池特性測試、光電材料特性測試、生物化學(xué)相關(guān)測試、光學(xué)催化降解加速研究、皮膚化妝用品檢測和環(huán)境研究等。
太陽光模擬器的均勻度要求：
在測試平面上,規(guī)定測試區(qū)域內(nèi)的輻照度應(yīng)該達(dá)到一定的均勻度,輻照度用合適的探測器量測。等級A的輻照均勻度≤+/-2%,等級B的輻照均勻度≤+/-5%,等級C的輻照均勻度≤+/-10%。
對于單體電池和電池串的測試,探測器大尺寸應(yīng)小于電池小尺寸的一半。
對于組件，探測器尺寸應(yīng)不大于組件中單體電池的尺寸。
不均勻度=+/-(大幅照度-小輻照度)/(大幅照度+小輻照度)*100%。
其中：大輻照度和小輻照度是指在規(guī)定范圍內(nèi)探測器在任意規(guī)定點的測量值。
太陽光模擬器的輻照穩(wěn)定度要求：
數(shù)據(jù)采集期間,輻照度應(yīng)該具有一定的穩(wěn)定度。等級A的穩(wěn)定度在≤+/-2%,等級B的穩(wěn)定度在≤+/-5%,等級C的穩(wěn)定度在≤+/-10%,輻照不穩(wěn)定度=+/-(大幅照度-小輻照度)/(大幅照度+小輻照度)*100%。
其中：大輻照度和小輻照度是數(shù)據(jù)采集期間在測試平面內(nèi)探測器在任意規(guī)定點的測量值。
具體的測試方法請參考IEC規(guī)程。
